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|ST5680

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DC 내전압 절연저항시험기 ST5680

  • 절연성능을 정확하게 검사해 배터리 및 모터의 품질을 증명
  • 파형과 수치 표시로 생산공정을 개선, 회수한 불량품을 분석, 검사품질 PR에 활용
  • 아크방전에 의한 미세 고장품의 유출을 방지
  • 판정에 의한 재검사를 방지
  • 폭넓은 국제규격(IEC, UL, GB, JIS)에 대응. BDV (절연파괴전압) 측정기능 탑재

| 제품사양

메인기능 DC 내전압 시험, 절연저항 시험, 절연 파괴 전압 시험, 파형 표시 기능, ARC 방전 검출 기능, 콘택트 체크 기능
(상세는 하단의 '각 시험 및 기능'표를 참조)
기능 일람 인터록, GFI, 자동 방전, 오프셋 취소, 시험 중 설정 전압 변경, 모니터링, 커맨드 모니터, I/O HANDLER 테스트, 키 로크, 셀프체크, 교정기한체크, EXT SW(리모컨 컨트롤)
사용 온습도 범위 0° C~40° C, 80% RH 이하 ( 결로 없을 것 )
적합규격 안전성 : IEC 61010
EMC : IEC 61326
전원전압 AC 100 V ~ 240 V
소비전력 약 180 VA
※ 전원 조건이 전원 전압 200 V, 전원 주파수 50/60 Hz, 시험 모드 DC 내전압 시험, 시험 전압 2.5kV, 부하 전류 5 mA(부하 저항 500 kΩ)인 경우입니다.
최대 정격 전력 800 VA
인터페이스 통신 : USB, LAN, EXT. I/O
옵션 : RS-232C(Z3001), GP-IB(Z3000)
메모리 : USB 메모리
치수 및 질량 약 305(W)× 142(H)× 430(D) mm(돌출부 불포함)
약 10.0 kg
부속품 전원 코드 ×1, CD-ROM ×1 (PDF : 사용설명서, 통신 사용설명서), EXT.I/O 용 수컷 커넥터 ×1, EXT.I/O 용 커넥터 커버×1, EXT.I/O 용 인터록 해제 지그 ×1, 스타트업 가이드 ×1

| 각 시험 및 기능

DC 내전압 시험 출력 전압 : DC 0.010 kV ~ 8.000 kV(1 V 분해능)
부하 변동 : ± 1% 이하
출력 설정 정확도 : ±(1.2% of setting + 20 V)
출력 전류 / 컷오프 전류 : 100 mA max
전류 정확도 : 3.00 mA < : ±(1.5% rdg. + 2 μA), ≦ 3.00 mA : ± 1.5% rdg.
최소 분해능 : 0.001 μA
시험 시간 : 0.1 s ~ 999 s, Continue(Timer OFF)
전압 상승 / 하강 시간 : 0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s, OFF
단락 전류 : 200 mA 이하
시험 모드 : W → IR, IR → W, 프로그램 시험
절연저항시험 출력 전압 : DC 10 V ~ 2000 V(1 V 분해능)
출력 설정 정확도 : ±(1.2% of setting + 2 V)
저항값 표시 범위 : 10.00 kΩ ~ 200.0 GΩ(0.01 kΩ 분해능)
정확도 보증 범위 : 10.00 kΩ ~ 99.99 GΩ
저항 정확도 : ±(1.5% rdg. + 3 dgt.) * 상세는 '절연저항 측정 정확도' 참조
시험 시간 : 0.1 s ~ 999 s, Continue(Timer OFF)
전압 상승 / 하강 시간 : 0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s, OFF
절연파괴전압시험 시험 방식 : 연속승압시험 , 단계승압시험
측정 내용 : 절연 파괴 전압 (kV), 절연 파괴 강도 (kV/mm)
설정 내용 : 초기 전압, 종료 전압, 승압 속도, ARC 검출, 전극간 거리, 상한 전류값
파형표시기능 파형 표시 내용 : 전압, 전류, 절연 저항
샘플링 속도 : 500 kS/s
분해능 : 256 k words
ARC(아크) 방전검출기능 검출 방식 : 시험 전압의 변동을 감시
설정 내용 : 시험 전압 변동률 1%~50%
콘택트 체크 기능 검출 방식 : 정전 용량 측정 방식
설정 내용 : 임계값(용량) 설정 1.0 nF ~ 100.0 nF
메모리 기능 ・ 파형・그래프 저장
USB 메모리에 저장
저장 형식 : BMP, PNG, CSV 파일

・ 패널 메모리 기능
본체에 시험 조건 설정을 저장
DC 내전압 시험 / 절연저항 시험 : 최대 64개
프로그램 시험 : 최대 30개 (최대 50스텝)
절연 파괴 전압 시험 : 최대 10개

・데이터 메모리 기능
측정값을 내부 메모리에 저장, 최대 32,000개
판정기능 (판정출력) PASS 판정, FAIL 판정(UPPER FAIL, LOWER FAIL)
UPPER_FAIL : 측정값 > 상한값
PASS : 상한값 ≧ 측정값 ≧ 하한값
LOWER_FAIL : 측정값 < 하한값

| 절연저항 측정 정확도 (정확도 보증 시험전압범위: 50 V ~ 2000 V)​양

측정범위 100 kΩ ~ 99.99 GΩ ※1
정확도 10 nA ≦ I ≦ 3 µA 100 MΩ ~ 999.9 MΩ ±(20% rdg.)
1.00 GΩ ~ 99.99 GΩ
100 nA ≦ I ≦ 30 µA 10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ ±(5% rdg.)
100.0 MΩ ~ 999.9 MΩ
1 µA ≦ I ≦ 300 µA 1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ ±(2% rdg. +5 dgt.)
10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ
10 µA ≦ I ≦ 3 mA 100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ ±(1.5% rdg. +3 dgt.
1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ<
100 µA ≦ I ≦ 30 mA 10.00 kΩ ~ 99.99 kΩ/td>
100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ
※ 시험 전압이 50V~ 99V 일 때 측정 정확도에 ± 10% 가산
※ 시험 전압이 100V~ 999V 일 때 측정 정확도에 ± 5% 가산
※ 시험 전압이 1000V~ 2000V 일 때 측정 정확도에 ± 2% 가산
※ 측정속도가 FAST2 일 때 측정 정확도를 2 배함
※ 주위 온도 t 가 5 ℃ 미만일 때 , 측정 전류 I < 100 nA:± (5% rdg. × × (5-t)) 가산 또는 측정 전류 I ≧ 100 nA: ± (1% rdg. × × (5-t)) 가산
※ 주위 온도 t 가 35℃를 초과할 때 , 측정 전류 I < 100nA : ± (5% rdg. × × (t-35)) 가산 또는 측정 전류 I ≧ 100 nA : ± (1% rdg. × (t-35)) 가산

| 자료실

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